xUnit Test Patterns(xUTP)読書会 : Recent Changes

xUnit Test Patterns(xUTP)読書会 : Recent Changes http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=recent xUnit Test Patterns(xUTP)読書会 Recent Changes ja Copyright (C) Hiroyuki Oonaka 2012-05-17T21:10:21+00:00 担当割当表/PARTⅡ/Production Bugs/Cause: Untested Requirement http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Requirement 2012-05-17T21:10:21+00:00 @@ -0,0 +1,53 @@
+!Untested Requirement
+
+!!症状
+とある機能がテストされてないことを知っています。
+また、ソフトウェアのある部分には、公開されたインターフェースを通じてテストはできるが、目に見える機能として現れないようなものもあります。
+全てのテストが書かれているのに、です。
+
+TDD を行っているなら、要求を扱うため何かのコードを追加しないといけないことが分かっています。
+しかし、自働化テストにおいて、ある操作を記録することの必要性を、どうコードで書いていいのか分からないのです。
+
+ public void testRevmoveFlight() throws Exception {
+     FlightDto expectedFlightDto = createARegisteredFlight();
+     FlightManagementFacade facade = new FlightManagementFacade();
+     // exercise
+     facade.removeFlight(expectedFlightDto.getFlightNumber());
+     // verify
+     assertFalse("flight should not exist after being removed",
+         facade.flightExists( expectedFlightDto.getFlightNumber()));
+ }
+
+このテストは、ちゃんと操作を記録してることを検証してません。
+ロギングが正しく実装されているかどうかにはまったく無関係なことです。
+テスト対象からの間接出力は多分ちゃんと実装されていませんが、ちゃんと検証している例を示します。
+
+ public void removeFlght(BigDecimal flightNumber)
+     throws FlightBokingException {
+     System.out.println("U8 removeFlight("+flightNumber+")");
+     dataAccess.removeFlight(flightNumber);
+     logMessage("CreateFlight", flightNumber); // Bug!
+ }
+
+商用環境で稼動するアプリケーションを保守していくために、''logMessage'' で確認できる情報を利用する計画なら、それが正しいことをどうやって保証すればよいでしょうか。
+その機能を検証する自働化テストを書くことに価値があるのは明らかです。
+
+!!影響
+テスト対象に必要な振る舞い (機能) の一部が、どのテストも失敗していないのに使えなくなってしまう可能性があります。
+顧客にバギーなソフトウェアが引き渡されてしまいます。
+バグを埋め込むことが怖いので、容赦ないリファクタリングや不要コードの削除をする勇気が出なくなります。
+
+!!根本原因
+テスト対象に公開されたインターフェースから観測できない機能 (振る舞い)があることが原因です。
+テストコードから直接観測できないような副作用があることも考えられます(ファイルへの出力や、メソッド呼び出しを別のオブジェクトもしくはコンポーネントへ記録する、など)。
+別の言い方をすれば、テスト対象に間接出力がある、ということです。
+
+アプリケーションの全てがテスト対象であるなら、観測できるあらゆる場面での振る舞いを検証する、顧客テストのテストスイートが完全では無い、ということになります。
+
+!!解決方法
+顧客テストの不足が原因なら、全てのコンポーネントが結合されていることを保証するためのテストを書く必要があります。
+それは、アプリケーションの設計におけるテスト容易性を増すことに他なりません。
+アプリケーションをプレゼンテーションレイヤ、ビジネスロジックレイヤに分離します。
+
+検証すべき間接出力があるなら、''Mock Object'' を使った ''Behavior Verification'' を行うようにします。
+間接出力のテストについては、''Test Double'' を使うやり方を Chapter 11 で説明しています。]]> 担当割当表/PARTⅡ/Production Bugs/Cause: Untested Code http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Code 2012-05-17T20:27:43+00:00 @@ -0,0 +1,31 @@
+!Untested Code
+
+!!症状
+
+テスト対象のコードに、どのテストからも実行されない部分があることを知っています。
+そのコードが実行されるところを一度も見たことが無いかもしれません。また、それが分かったのはコードカバレッジツールを使ったからに他なりません。
+例えば次のコードで、''timeProvider'' が例外をスローすることはテストできるでしょうか。また、例外はちゃんと処理されるでしょうか。
+
+ public String getCurrentTimeAsHtmlFragment()
+       throws TimePRoviderEx {
+     Calendar currentTime;
+     try {
+         currentTime = getTimeProvider().getTime();
+     } catch (Exception e) {
+         return e.getMessage();
+     }
+     // eetc.
+
+!!根本原因
+
+よくある原因は、テストから実行されないコードパスは、依存コンポーネントの振る舞いによる特定のやり方に反応するようになっている、というものです。
+そして、私たちはそのやり方を知りません。
+一般に、依存コンポーネントは同期的に呼び出されるし、常に一定の値を返す、もしくは、例外をスローするものです。
+普通のテストを実行している間は、間接入力として可能な'''同値クラス'''の下位集合にしか出くわすことがありません。
+
+別の原因として、テストスイートの不備、テスト対象の機能の仕様化の不備といったものがあります。
+
+!!解決方法
+
+テスト対象への間接入力が制御できないことが原因なら、''Test Stub'' を使うことができます。
+また、テスト対象を全てテストするために必要な依存コンポーネントからの間接入力(返す値)を得るため、依存コンポーネントを設定するだけでも十分かもしれません。]]> 担当割当表/PARTⅡ/Production Bugs/Cause: Lost Test http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Lost+Test 2012-05-17T00:07:41+00:00 @@ -0,0 +1,49 @@
+!Lost Test
+
+!!症状
+テストスイートに含まれるテストが減少していたり、思ったよりも増えません。
+テストの数に注意していれば気付くことができるものです。
+また、テストで見つけられるバグだと思って探してみると、テストが実行されないようになっています。
+
+!!根本原因
+Lost Test は、テストメソッドやテストケースクラスが実行されないようになっていたり、[[AllTest Suites|]] に含まれていないことから引き起されます。
+----
+テストスイートに含まれていないのは、次のような事情があるからです。
+
+* テストメソッドに "[test]" 属性を付け忘れていたり、Test Discovery の仕組みで見つけられないようなメソッド名にしている
+* ''suite.addTest'' を呼び出しを忘れてる
+** Test Enumeration しかサポートしてない自動化テストフレームワークを使っている (という前提)
+* 手続き型言語の xUnit フレームワークで、テストメソッドの呼び出しを忘れてる
+* テストケースクラスに "[Test Fixture]" 属性を付け忘れていたり、Suite of Suite にテストスイートを追加し忘れている
+
+----
+以前は実行されていたテストが実行されないようになるのは、次のような事情があるからです。
+
+* テストメソッドを rename した結果、Test Discovery の仕組みで見つけられないようなメソッド名になった
+* "[Ignore]" 属性を付け加えた
+* コメントアウトした
+
+----
+一般的に、あるテストが失敗しているけど他のテストを通したいような場合に無効化されるようです。
+もちろん、何かの事故の場合もありますが。
+
+!! 解決方法
+いろいろなやり方が挙げられます。
+
+* 1.
+** 失敗してしまうテストや Slow Test のためにテストを無効にする代わりに、1 つのテストメソッドだけを実行する Single Test Suite を使います
+** Test Tree Explore から実行したいテストを選択することもできます
+** Chained Test (a deliberate form of Interacting Test) では難しい
+* 2.
+** xUnit の機能でテストを無効にします
+** 無効にしたテストの数を覚えておいて、戻すのを忘れないようにします
+** CI ツールの設定で、無効なテストの数がある閾値を越えたら、ビルドが失敗するようにします
+* 3.
+** インテグレーションを始める前後のテストの数を比較します
+** テストを追加したらその数は増加していくはずなので、簡単に検証できます
+* 4.
+** プログラミング言語がリフレクションをサポートしてるなら、Test Discovery がしやすくなります
+* 5.
+** 結合ビルドにおけるテスト検索の戦略を、異なるやり方にします
+** ant とかでは名前に基づく検索ができます
+** 「全てのテストスイートを探す」戦略では、漏れが無くなります]]> 担当割当表/PARTⅡ/Production Bugs http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs 2012-05-16T23:34:41+00:00 @@ -0,0 +1,31 @@
+!商用バグ
+
+'''システムテストや商用環境での稼動中に多数のバグが発見される'''
+
+
+!!症状
+自動化テストを書くためにたくさんの労力を費してきたのに、システムテストや商用環境での稼動中に多数のバグが見つかる。
+
+!!影響
+システムテストや商用環境での稼動中に見つかったバグは、開発環境で見つけたものに比べて修正にかかる時間が長くなります。
+バグ修正と再テストが終わるまで、アプリケーションのリリースは、遅れを余儀なくされます。
+この待ち時間と努力は、新たな機能を追加したり新製品を開発するためのコスト(費用、資源)へ直接変換されます。
+リリースの遅延は、顧客から見た組織への信頼性に深刻な被害をもたらします。
+品質の低さも同様に、私たちの提供する製品やサービスの価値を下げてしまいます。
+
+!!原因
+バグが商用環境にまで潜り込んでしまうことには、[[Infrequently Run Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Infrequently+Run+Tests]] や [[Untested Code|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Code]] といったさまざまな原因があります。
+最近では、[[Missing Unit Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Missing+Unit+Test]] や [[Lost Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Lost+Test]] がよくある問題となっています。
+
+「''十分なテスト'' を行うこと」が規定されるとき、私たちはテストカバレッジが適切であることより、明確な数のテストが行われることを重要だと考えるようになります。
+商用バグが発見されたことで[[Untested Code|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Code]] が改善されると、自動化テストが無いとしても、開発者がどうして問題を埋め込んだのかを教えてくれるものになります。
+常にテストを行っていても、[[Untested Requirements|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Requirement]] が検証されるわけではないので、本当のところ私たちは何が動いているのかを知らないのです。
+これらの問題は、[[Developers Not Writing Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FDevelopers+Not+Writing+Tests]]も関係します。
+
+* Cause
+** [[Infrequently Run Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Infrequently+Run+Tests]]
+** [[Lost Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Lost+Test]]
+** [[Missing Unit Tests|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Missing+Unit+Test]]
+** [[Untested Code|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Code]]
+** [[Untested Requirements|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?c=edit;p=%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Untested+Requirement]]
+** [[Neverfail Test|http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FProduction+Bugs%2FCause%3A+Neverfail+Test]]]]> 担当割当表/PARTⅡ/High Test Maintenance Cost/Cause: Hard-to-Test Code http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FHigh+Test+Maintenance+Cost%2FCause%3A+Hard-to-Test+Code 2012-05-13T23:04:52+00:00 @@ -0,0 +1 @@
+[[担当割当表/PARTⅡ/High Test Maintenance Cost]]を参照のこと]]> 担当割当表/PARTⅡ/High Test Maintenance Cost/Cause: Obscure Test http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FHigh+Test+Maintenance+Cost%2FCause%3A+Obscure+Test 2012-05-13T23:04:41+00:00 @@ -0,0 +1 @@
+[[担当割当表/PARTⅡ/High Test Maintenance Cost]]を参照のこと]]> 担当割当表/PARTⅡ/High Test Maintenance Cost/Cause: Fragile Test http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B6%2FHigh+Test+Maintenance+Cost%2FCause%3A+Fragile+Test 2012-05-13T23:03:54+00:00 @@ -0,0 +1 @@
+[[担当割当表/PARTⅡ/High Test Maintenance Cost]]を参照のこと]]> NextReading http://www.fieldnotes.jp/xutp/?NextReading 2011-05-15T14:54:08+00:00 @@ -3,4 +3,4 @@
*候補を追加したい方はページ編集しちゃってください！
*期限は5/15(日)一杯です。

-{{vote '達人プログラマー（白い方）','Exploratory Software Testing','JUnit in Action, Second Edition','Design Driven Testing','テスト駆動開発入門','Test-Driven Development: A Practical Guide','Test Driven Development: By Example','rspec book','Continuous Delivery','基本から学ぶソフトウェアテスト','レガシーコード改善ガイド','Test-Driven JavaScript Development','The Art of Unit Testing','Growing Object-Oriented Software, Guided by Test','Testing Object-Oriented Systems','Test-Driven Development for Embedded C'}}
+{{vote '達人プログラマー（白い方）','Exploratory Software Testing','JUnit in Action, Second Edition','Design Driven Testing','テスト駆動開発入門','Test-Driven Development: A Practical Guide','Test Driven Development: By Example','rspec book','Continuous Delivery','基本から学ぶソフトウェアテスト','レガシーコード改善ガイド','Test-Driven JavaScript Development','The Art of Unit Testing','Growing Object-Oriented Software, Guided by Test','Testing Object-Oriented Systems','Test-Driven Development for Embedded C','Test Driven: Practical TDD and Acceptance TdDD for Java Developers'}}]]> lookback/Template http://www.fieldnotes.jp/xutp/?lookback%2FTemplate 2011-05-14T08:24:39+00:00 @@ -19,5 +19,5 @@

!!! 対処方法

-!!! 外部リンク
+!!! 参考
http://xunitpatterns.com/Obscure%20Test.html]]> 担当割当表/PARTⅢ http://www.fieldnotes.jp/xutp/?%C3%B4%C5%F6%B3%E4%C5%F6%C9%BD%2FPART%AD%B7 2011-03-07T04:49:18+00:00 @@ -0,0 +1,89 @@
+!Chapter 18. Test Strategy Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Recorded Test|担当割当表/PARTⅢ/Recorded Test]]||ozeki||○||
+||[[Scripted Test|担当割当表/PARTⅢ/Scripted Test]]||多田||○||
+||[[Data-Driven Test|担当割当表/PARTⅢ/Data-Driven Test]]||田中(tenkoma)||○||
+||[[Test Automation Framework|担当割当表/PARTⅢ/Test Automation Framework]]||田中(tenkoma)||○||
+||[[Minimal Fixture|担当割当表/PARTⅢ/Minimal Fixture]]||ozeki||○||
+||[[Standard Fixture|担当割当表/PARTⅢ/Standard Fixture]]||ozeki||○||
+||[[Fresh Fixture|担当割当表/PARTⅢ/Fresh Fixture]]||多田||○||
+||[[Shared Fixture|担当割当表/PARTⅢ/Shared Fixture]]||多田||○||
+||[[Back Door Manipulation|http://www.slideshare.net/secret/2pCCpWpafR8WJ]]||遠山||○||
+||[[Layer Test|担当割当表/PARTⅢ/Layer Test]]||大久保||5/15||
+!Chapter 19. xUnit Basics Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Test Method|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19]]||t-wada||○||
+||[[Four-Phase Test|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19]]||t-wada||○||
+||[[Assertion Method|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19]]||t-wada||○||
+||[[Assertion Message|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19]]||t-wada||○||
+||[[Testcase Class|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19-2-testcase-class]]||t-wada||5/15||
+||[[Test Runner|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19-2-testcase-class]]||t-wada||5/15||
+||[[Testcase Object|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter19-2-testcase-class]]||t-wada||5/15||
+||[[Test Suite Object|担当割当表/PARTⅢ/Test Suite Object]]||t-wada||6/6||
+||[[Test Discovery|担当割当表/PARTⅢ/Test Discovery]]||t-wada||6/6||
+||[[Test Enumeration|担当割当表/PARTⅢ/Test Enumeration]]||t-wada||6/6||
+||[[Test Selection|担当割当表/PARTⅢ/Test Selection]]||井芹||6/6||
+!Chapter 20.Fixture Setup Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[In-line Setup|担当割当表/PARTⅢ/In-line Setup]]||大中||○||
+||[[Delegated Setup|担当割当表/PARTⅢ/Delegated Setup]]||大中||
+||[[Creation Method|担当割当表/PARTⅢ/Creation Method]]||ozeki||5/15||
+||[[Implicit Setup|担当割当表/PARTⅢ/Implicit Setup]]||ozeki||5/15||
+||[[Prebuilt Fixture|担当割当表/PARTⅢ/Prebuilt Fixture]]||遠山||6/6||
+||[[Lazy Setup|担当割当表/PARTⅢ/Lazy Setup]]||遠山||5/15||
+||[[Suite Fixture Setup|担当割当表/PARTⅢ/Suite Fixture Setup]]||ozeki||6/6||
+||[[Setup Decorator|担当割当表/PARTⅢ/Setup Decorator]]||多田||6/6||
+||[[Chained Tests|担当割当表/PARTⅢ/Chained Tests]]||大久保||9/25||
+!Chapter 21.Result Verification Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[State Verification|担当割当表/PARTⅢ/State Verification]]||岡澤||7/24||
+||[[Behavior Verification|担当割当表/PARTⅢ/Behavior Verification]]||岡澤||7/24||
+||[[Custom Assertion|担当割当表/PARTⅢ/Custom Assertion]]||岡澤||7/24||
+||[[Delta Assertion|担当割当表/PARTⅢ/Delta Assertion]]||岡澤||7/24||
+||[[Guard Assertion|担当割当表/PARTⅢ/Guard Assertion]]||岡澤||7/24||
+||[[Unfinished Test Assertion|担当割当表/PARTⅢ/Unfinished Test Assertion]]||岡澤||7/24||
+!Chapter 22. Fixture Teardown Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Garbage-Collected Teardown|http://www.slideshare.net/setoazusa/garbage-collected-teardown]]||大中||7/24||
+||[[Automated Teardown|担当割当表/PARTⅢ/Automated Teardown]]||田中||1/15||
+||[[In-line Teardown|http://www.slideshare.net/setoazusa/in-line-teardown]]||大中||7/24||
+||[[Implicit Teardown|担当割当表/PARTⅢ/Implicit Teardown]]||かわにし||7/24||
+!Chapter 23.Test Double Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Test Double|http://infog.0ch.biz/download/xutp_testdouble_testdouble.pdf]]||井芹||6/6||
+||[[Test Stub|担当割当表/PARTⅢ/Test Stub]]||井芹||9/25||
+||[[Test Spy|担当割当表/PARTⅢ/Test Spy]]||m-takagi||3/5||
+||[[Mock Object|http://www.slideshare.net/setoazusa/mock-object]]||大中||3/5||
+||[[Fake Object|担当割当表/PARTⅢ/Fake Object]]||m-takagi||3/5||
+||[[Configurable Test Double|http://www.slideshare.net/setoazusa/20100925xutp]]||大中||9/25||
+||[[Hard-Coded Test Double|担当割当表/PARTⅢ/Hard-Coded Test Double]]||m-takagi||3/5||
+||[[　コラム “What’s in a (Pattern) Name?”|担当割当表/PARTⅢ/What’s in a (Pattern) Name]]||m-takagi||3/5||
+||[[Test-Specific Subclass|担当割当表/PARTⅢ/Test-Specific Subclass]]||大久保||3/5||
+!Chapter 24. Test Organization Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Named Test Suite|担当割当表/PARTⅢ/Named Test Suite]]||岡澤||9/25||
+||[[Test Utility Method|担当割当表/PARTⅢ/Test Utility Method]]||岡澤||9/25||
+||[[Parameterized Test|担当割当表/PARTⅢ/Parameterized Test]]||岡澤||11/14||
+||[[Testcase Class per Class|担当割当表/PARTⅢ/Testcase Class per Class]]||岡澤||11/14||
+||[[Testcase Class per Feature|担当割当表/PARTⅢ/Testcase Class per Feature]]||岡澤||11/14||
+||[[Testcase Class per Fixture|担当割当表/PARTⅢ/Testcase Class per Fixture]]||岡澤||11/14||
+||[[Testcase Superclass|担当割当表/PARTⅢ/Testcase Superclass]]||岡澤||11/14||
+||[[Test Helper|担当割当表/PARTⅢ/Test Helper]]||岡澤||11/14||
+!Chapter 25.Database Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Database Sandbox|担当割当表/PARTⅢ/Database Sandbox]]||岡澤||11/14||
+||[[Stored Procedure Test|担当割当表/PARTⅢ/Stored Procedure Test]]||岡澤||1/15||
+||[[Table Truncation Teardown|担当割当表/PARTⅢ/Table Truncation Teardown]]||岡澤||1/15||
+||[[Transaction Rollback Teardown|担当割当表/PARTⅢ/Transaction Rollback Teardown]]||岡澤||1/15||
+!Chapter 26.Design-for-Testability Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Dependency Injection|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter26-dependency-injection]]||t-wada||1/15||
+||[[Dependency Lookup|担当割当表/PARTⅢ/Dependency Lookup]]||多田||3/5||
+||[[Humble Object|担当割当表/PARTⅢ/Humble Object]]||岡澤||3/5||
+||[[Test Hook|http://www.slideshare.net/setoazusa/20101114]]||大中||1/15||
+!Chapter 27.Value Patterns
+||節名||担当||発表日||
+||[[Literal Value|担当割当表/PARTⅢ/Literal Value]]||井芹||3/5||
+||[[Derived Value|http://d.hatena.ne.jp/gnarl/20110227/1298816458]]||todesking||3/5||
+||[[Generated Value|http://www.slideshare.net/t_wada/xutp-chapter27-generated-value]]||t-wada||3/5||
+||[[Dummy Object|担当割当表/PARTⅢ/Dummy Object]]||かわにし||3/5||]]>